2023-07-20 15:58:46 | 好商标网
激光能干涉测量专利申请吗?本文介绍了激光干涉测量常见的应用,分析了本领域利用激光干涉原理测量长度、厚度、物体表面轮廓面貌的专利申请情况。通过对激光干涉测量领域专利的不同年份、不同国家、不同申请人的数据统计,分析了激光干涉测量领域技术的发展状况和专利申请情况。那么,激光能干涉测量专利申请吗?
激光能干涉测量专利申请吗激光能干涉测量专利申请吗:
激光干涉测量技术的专利申请量
激光干涉测量技术在光学测量领域的专利申请最早出现在1964年,从图2.1可以看出,在1960年以前,激光干涉技术专利申请量为零;在1975到1995年期间,激光干涉测量技术的专利申请逐渐稳步上升,但是上升幅度较小,每年的专利申请数量小于100件;在2000年到2001年激光干涉测量技术的专利申请量有了较大的提高,此时激光干涉测量技术已经形成了各种先进的激光干涉测量仪,应用范围进一步扩宽;2001后,激光干涉测量技术在精度和灵敏度上进一步发展,甚至在光学薄膜厚度测试方面,用干涉法测厚的精度可以达到0.01nm,测量角度,分辨力可达0.05''以上,测量面形分辨力可达1/100λ,测量光学零件曲率半径,分辨力可达1um;此后每一年的激光干涉测量技术的专利申请数据都在200件以上并保持稳步上升的趋势,专利申请数量保持较高的申请量。
激光干涉测量技术的专利申请国家分布
激光干涉测量技术最早是在欧美国家研发,在最终是由日本的学者将该技术扩宽到各个领域中,激光干涉测量技术在日本得到了更深入的研究和发展,随后,中国的学者也开始将激光干涉测量技术加入研究的技术领域;激光干涉测量技术在日本的专利申请量最多,与美国和中国的激光干涉测量专利申请数量有较大差额,美国激光干涉测量专利位于第二,中国紧随其后。
激光干涉测量技术的专利申请人分布
激光干涉技术在测量领域的专利申请的申请人中,大部分都来自高校,其次是公司申请,来自研究所的申请也占了较大部分;PCT申请的占有率最少,从侧面反映出了,激光干涉测量技术属于一门研究型的技术,是一门高科技学科;在高校申请中,清华大学的激光干涉测量专利申请量最多,其次是天津大学的激光干涉测量专利申请;在公司申请中,上海微电子装备有限公司的激光干涉测量专利申请量最多;而在各研究所的激光干涉测量专利申请量中,没有特别突出的;这也反应了,在激光干涉测量技术研究中,清华大学和天津大学的研究较为靠前,而在激光干涉测量技术的应用中,上海微电子装备有限公司占据市场较大份额。
专利优先权申请有哪些注意的地方有哪些?优先权是指申请人对国家优先权的要求。在先申请是发明专利申请的,发明专利或者实用新型专利申请可以就同一主题提出。那么,专利优先权申请有哪些注意的地方有哪些?
专利优先权申请有哪些注意的地方专利优先权申请有哪些注意的地方:
1、申请人要求优先权的,应当在申请时作出书面声明,并在三个月内提交第一份专利申请文件的副本。逾期未作书面陈述或者未提交专利文件副本的,不要求优先权。
2、在书面陈述中,申请人应当写明申请日期、申请号和首次提出申请的国家(以下简称在先申请)。如果书面声明没有说明先前申请的申请日期和申请被接受的国家,则应视为没有作出声明。
3、申请外国优先权的,申请人提交的在先申请文件副本应当经原受理机关证明;在提交的文件中,如果在先申请人的姓名与在先申请人的姓名不一致,应当提交优先权转移证明;要求国家优先权的,由国务院专利行政部门制作申请人提交的在先申请文件副本。
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