激光能干涉测量专利申请吗 发明专利号查询方法有哪些

激光能干涉测量专利申请吗？

激光能干涉测量专利申请吗？本文介绍了激光干涉测量常见的应用，分析了本领域利用激光干涉原理测量长度、厚度、物体表面轮廓面貌的专利申请情况。通过对激光干涉测量领域专利的不同年份、不同国家、不同申请人的数据统计，分析了激光干涉测量领域技术的发展状况和专利申请情况。那么，激光能干涉测量专利申请吗？
激光能干涉测量专利申请吗激光能干涉测量专利申请吗：
激光干涉测量技术的专利申请量
激光干涉测量技术在光学测量领域的专利申请最早出现在1964年，从图2.1可以看出，在1960年以前，激光干涉技术专利申请量为零；在1975到1995年期间，激光干涉测量技术的专利申请逐渐稳步上升，但是上升幅度较小，每年的专利申请数量小于100件；在2000年到2001年激光干涉测量技术的专利申请量有了较大的提高，此时激光干涉测量技术已经形成了各种先进的激光干涉测量仪，应用范围进一步扩宽；2001后，激光干涉测量技术在精度和灵敏度上进一步发展，甚至在光学薄膜厚度测试方面，用干涉法测厚的精度可以达到0.01nm，测量角度，分辨力可达0.05''以上，测量面形分辨力可达1/100λ，测量光学零件曲率半径，分辨力可达1um；此后每一年的激光干涉测量技术的专利申请数据都在200件以上并保持稳步上升的趋势，专利申请数量保持较高的申请量。
激光干涉测量技术的专利申请国家分布
激光干涉测量技术最早是在欧美国家研发，在最终是由日本的学者将该技术扩宽到各个领域中，激光干涉测量技术在日本得到了更深入的研究和发展，随后，中国的学者也开始将激光干涉测量技术加入研究的技术领域；激光干涉测量技术在日本的专利申请量最多，与美国和中国的激光干涉测量专利申请数量有较大差额，美国激光干涉测量专利位于第二，中国紧随其后。
激光干涉测量技术的专利申请人分布
激光干涉技术在测量领域的专利申请的申请人中，大部分都来自高校，其次是公司申请，来自研究所的申请也占了较大部分；PCT申请的占有率最少，从侧面反映出了，激光干涉测量技术属于一门研究型的技术，是一门高科技学科；在高校申请中，清华大学的激光干涉测量专利申请量最多，其次是天津大学的激光干涉测量专利申请；在公司申请中，上海微电子装备有限公司的激光干涉测量专利申请量最多；而在各研究所的激光干涉测量专利申请量中，没有特别突出的；这也反应了，在激光干涉测量技术研究中，清华大学和天津大学的研究较为靠前，而在激光干涉测量技术的应用中，上海微电子装备有限公司占据市场较大份额。

发明专利号查询方法有哪些？怎么查询专利是否被申请？

发明专利号查询方法有哪些？怎么查询专利是否被申请？专利查询是专利申请前的一个程序，它不是必须的，却是有必要的，一份有效检索报告可以让申请人避免所要保护的权利不与在先申请的利相同或相近，保证所申请的专利是有效的。那么发明专利号查询方法有哪些呢？

发明专利号查询方法有哪些？

1、可以在国家知识产权局网公开的数据库中进行一般查询；

2、可以委托专利检索中心进行专业的查询；

3、可以利用信件查询，写清楚您专利的著录事项和要查询的内容到国家知识产权局专利局受理处；

4、可以面对面的查询，直接到国家知识产权局专利局当面咨询；

5、还可以通过电话查询。

怎么查询专利是否被申请？

方法一：登录中国知识产权局官网。根据相关导航了解专利信息,想申请专利的朋友最好详细了解一下专利申请要求、关于申请专利的的流程，该官网上都有详细公布写明,有需要的朋友可以详细阅读。

方法二：登录中国知识产权局专利检索网站。打开查询专利界面，鼠标动到哪一个文本框,就会有相应的提示，可以是人，或者类型,时间，地区等一系列的资料查询相应的专利，这样可以避免重复。如果不是通过专利号查询，一般都会出现很多结果同类的资料.可以根据需求一个一个排除。

方法三：其它网站也可以查询。例如："中国知识产权局"。直接点右上方的"高级检索"即可进入查询界面。根据名称与后面的提示输入，即可查询。根据领域的模糊查询，可以查询很多结果。如果您想申请专利，建议最好先在专利检索查询了，然后再申请，已免重复申请现象。

关于发明专利号查询方法有哪些？怎么查询专利是否被申请？这一问题我们就给大家解答到这里了，如果想要申请发明专利号查询，请联系我们在线客服，或拨打好商标网全国免费服务热线18117821094，我们有着多年专业的知识产权代理经验，一流的业务团队和全心全意为顾客服务的理念，一定能帮助您顺利申请。