激光能干涉测量专利申请吗 专利申请不受理是的原因有哪些

激光能干涉测量专利申请吗？

激光能干涉测量专利申请吗？本文介绍了激光干涉测量常见的应用，分析了本领域利用激光干涉原理测量长度、厚度、物体表面轮廓面貌的专利申请情况。通过对激光干涉测量领域专利的不同年份、不同国家、不同申请人的数据统计，分析了激光干涉测量领域技术的发展状况和专利申请情况。那么，激光能干涉测量专利申请吗？
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激光干涉测量技术的专利申请量
激光干涉测量技术在光学测量领域的专利申请最早出现在1964年，从图2.1可以看出，在1960年以前，激光干涉技术专利申请量为零；在1975到1995年期间，激光干涉测量技术的专利申请逐渐稳步上升，但是上升幅度较小，每年的专利申请数量小于100件；在2000年到2001年激光干涉测量技术的专利申请量有了较大的提高，此时激光干涉测量技术已经形成了各种先进的激光干涉测量仪，应用范围进一步扩宽；2001后，激光干涉测量技术在精度和灵敏度上进一步发展，甚至在光学薄膜厚度测试方面，用干涉法测厚的精度可以达到0.01nm，测量角度，分辨力可达0.05''以上，测量面形分辨力可达1/100λ，测量光学零件曲率半径，分辨力可达1um；此后每一年的激光干涉测量技术的专利申请数据都在200件以上并保持稳步上升的趋势，专利申请数量保持较高的申请量。
激光干涉测量技术的专利申请国家分布
激光干涉测量技术最早是在欧美国家研发，在最终是由日本的学者将该技术扩宽到各个领域中，激光干涉测量技术在日本得到了更深入的研究和发展，随后，中国的学者也开始将激光干涉测量技术加入研究的技术领域；激光干涉测量技术在日本的专利申请量最多，与美国和中国的激光干涉测量专利申请数量有较大差额，美国激光干涉测量专利位于第二，中国紧随其后。
激光干涉测量技术的专利申请人分布
激光干涉技术在测量领域的专利申请的申请人中，大部分都来自高校，其次是公司申请，来自研究所的申请也占了较大部分；PCT申请的占有率最少，从侧面反映出了，激光干涉测量技术属于一门研究型的技术，是一门高科技学科；在高校申请中，清华大学的激光干涉测量专利申请量最多，其次是天津大学的激光干涉测量专利申请；在公司申请中，上海微电子装备有限公司的激光干涉测量专利申请量最多；而在各研究所的激光干涉测量专利申请量中，没有特别突出的；这也反应了，在激光干涉测量技术研究中，清华大学和天津大学的研究较为靠前，而在激光干涉测量技术的应用中，上海微电子装备有限公司占据市场较大份额。

专利申请不受理是的原因有哪些？

专利申请不受理是的原因有哪些？一项创新的技术发明，只有通过申请成专利，才能得到法律的保护，同时防止别人侵权。专利权的获得，需要发明人向国家特定机关部门提交相应申请和资料，发出恳求进行审核授权。包括了对专利新颖性的审核、实用性以及可操作性等方面，因此发明人在申请前，就需要做好充足的准备功夫，例如专利检索，排除重复研究，提升专利授权成功概率。但也有很多申请，还没受理就被驳回，浪费发明人等待的时间。那么专利申请不受理是的原因有哪些？
专利申请不受理是的原因专利申请不受理是的原因：
1、专利申请书没有用书面的形式呈现提交，或者是申请书内容为外国语言，未经过翻译机构翻译盖章的不予以受理并驳回。例如发明人是通过打电话、使用模型、录影带、磁盘等提交的请求，没有按照申请的规范填写相关内容，这样当然是不可能受理的。
2、用于申请的书面内容字迹模糊不清，存在涂抹、修改、手写的迹象；或是附图、外观设计图样没有使用绘图工具黑色墨水制作，图片模糊不清、难以辨认、有修改、涂抹迹象，一律都不受理。发明人申请的文件一定要保持整洁干净，打印的字迹清晰可见。
3、文件不齐全导致的专利申请不受理。对于初次申请专利的发明人，事先应当咨询相关机构了解专利申请的大体内容和所需文件资料，因为文件缺失而导致的申请被驳回现象十分常见。例如权利要求书、专利说明书、附图、相片、个人身份证明复印件等，发明人提交申请前一定要仔细核对，除了需要检查文件是否齐全外，还要确保它们的完好没有破损。
4、相关信息填写不详，或是申请专利类型错误不明确，都有可能导致申请不受理。包括有申请人的名字、地址；是否将外观设计类型专利，提交至了发明类型专利等。
5、与我国无协议、公约联系、无专利互利的国家所属的国民或单位，向我国提出的专利申请不予受理；或在我国没有常居所、营业所的外国人或外国单位，以及港、澳、台区域的单位和同胞未按专利法第十九条第一款规定办理专利申请手续的不能受理。
6、港澳台区域内的居民或是法人，直接从该区域向专利局邮递专利申请请求书，不是委托我国知识产权部门指定具有代理资格的机构办理的专利申请将不会予以受理。

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