激光能干涉测量专利申请吗 哪些情形不得申请专利行政复议
2023-07-13 06:18:22 | 好商标网
激光能干涉测量专利申请吗？
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激光干涉测量技术的专利申请量
激光干涉测量技术在光学测量领域的专利申请最早出现在1964年，从图2.1可以看出，在1960年以前，激光干涉技术专利申请量为零；在1975到1995年期间，激光干涉测量技术的专利申请逐渐稳步上升，但是上升幅度较小，每年的专利申请数量小于100件；在2000年到2001年激光干涉测量技术的专利申请量有了较大的提高，此时激光干涉测量技术已经形成了各种先进的激光干涉测量仪，应用范围进一步扩宽；2001后，激光干涉测量技术在精度和灵敏度上进一步发展，甚至在光学薄膜厚度测试方面，用干涉法测厚的精度可以达到0.01nm，测量角度，分辨力可达0.05''以上，测量面形分辨力可达1/100λ，测量光学零件曲率半径，分辨力可达1um；此后每一年的激光干涉测量技术的专利申请数据都在200件以上并保持稳步上升的趋势，专利申请数量保持较高的申请量。
激光干涉测量技术的专利申请国家分布
激光干涉测量技术最早是在欧美国家研发，在最终是由日本的学者将该技术扩宽到各个领域中，激光干涉测量技术在日本得到了更深入的研究和发展，随后，中国的学者也开始将激光干涉测量技术加入研究的技术领域；激光干涉测量技术在日本的专利申请量最多，与美国和中国的激光干涉测量专利申请数量有较大差额，美国激光干涉测量专利位于第二，中国紧随其后。
激光干涉测量技术的专利申请人分布
激光干涉技术在测量领域的专利申请的申请人中，大部分都来自高校，其次是公司申请，来自研究所的申请也占了较大部分；PCT申请的占有率最少，从侧面反映出了，激光干涉测量技术属于一门研究型的技术，是一门高科技学科；在高校申请中，清华大学的激光干涉测量专利申请量最多，其次是天津大学的激光干涉测量专利申请；在公司申请中，上海微电子装备有限公司的激光干涉测量专利申请量最多；而在各研究所的激光干涉测量专利申请量中，没有特别突出的；这也反应了，在激光干涉测量技术研究中，清华大学和天津大学的研究较为靠前，而在激光干涉测量技术的应用中，上海微电子装备有限公司占据市场较大份额。
哪些情形不得申请专利行政复议？
关键词：哪些情形不得申请专利行政复议 行政复议 申请专利哪些情形不得申请专利行政复议，专利权是依法可以享有的权利，当然如果对专利申请过程中存在异议的可以申请专利复议的，但是需要相应的条件才可以申请。那么哪些情形不得申请专利行政复议？
哪些情形不得申请专利行政复议？
(一)专利申请人对驳回专利申请的决定不服的；
(二)专利申请人对复审决定不服的；
(三)专利权人和无效宣告请求人对专利复审委员会就无效宣告请求所作决定不服的；
(四)专利权人或实施强制许可的被许可人对实施强制许可使用费的裁决不服的；
(五)国际申请的申请人对国家知识产权局作为国际申请的受理单位、国际检索单位和国际初步审查单位所作决定不服的；
(六)布图设计登记申请人对驳回登记申请的决定不服的；
(七)布图设计登记申请人对复审决定不服的；
(八)布图设计权利人对撤销布图设计登记的决定不服的；
(九)布图设计权利人、非自愿许可取得人对非自愿许可报酬的裁决不服的；
(十)布图设计权利人、被控侵权人对布图设计专有权侵权纠纷处理决定不服的。
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