激光能干涉测量专利申请吗湖南发明专利申请流程如何

2023-07-23 12:31:32 | 好商标网

激光能干涉测量专利申请吗？

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激光干涉测量技术的专利申请量
激光干涉测量技术在光学测量领域的专利申请最早出现在1964年，从图2.1可以看出，在1960年以前，激光干涉技术专利申请量为零；在1975到1995年期间，激光干涉测量技术的专利申请逐渐稳步上升，但是上升幅度较小，每年的专利申请数量小于100件；在2000年到2001年激光干涉测量技术的专利申请量有了较大的提高，此时激光干涉测量技术已经形成了各种先进的激光干涉测量仪，应用范围进一步扩宽；2001后，激光干涉测量技术在精度和灵敏度上进一步发展，甚至在光学薄膜厚度测试方面，用干涉法测厚的精度可以达到0.01nm，测量角度，分辨力可达0.05''以上，测量面形分辨力可达1/100λ，测量光学零件曲率半径，分辨力可达1um；此后每一年的激光干涉测量技术的专利申请数据都在200件以上并保持稳步上升的趋势，专利申请数量保持较高的申请量。
激光干涉测量技术的专利申请国家分布
激光干涉测量技术最早是在欧美国家研发，在最终是由日本的学者将该技术扩宽到各个领域中，激光干涉测量技术在日本得到了更深入的研究和发展，随后，中国的学者也开始将激光干涉测量技术加入研究的技术领域；激光干涉测量技术在日本的专利申请量最多，与美国和中国的激光干涉测量专利申请数量有较大差额，美国激光干涉测量专利位于第二，中国紧随其后。
激光干涉测量技术的专利申请人分布
激光干涉技术在测量领域的专利申请的申请人中，大部分都来自高校，其次是公司申请，来自研究所的申请也占了较大部分；PCT申请的占有率最少，从侧面反映出了，激光干涉测量技术属于一门研究型的技术，是一门高科技学科；在高校申请中，清华大学的激光干涉测量专利申请量最多，其次是天津大学的激光干涉测量专利申请；在公司申请中，上海微电子装备有限公司的激光干涉测量专利申请量最多；而在各研究所的激光干涉测量专利申请量中，没有特别突出的；这也反应了，在激光干涉测量技术研究中，清华大学和天津大学的研究较为靠前，而在激光干涉测量技术的应用中，上海微电子装备有限公司占据市场较大份额。

湖南发明专利申请流程如何？

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湖南发明专利申请流程如何？发明专利从申请到授权或驳回，在正常情况下，需要两到三年时间。那么，湖南发明专利申请流程如何？
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(1)专利撰写申请前的检索：
这是判断专利是否具有创造性和新颖性的重要依据，可以判断该申请是否具有足够的可授权性。一旦检索到类似的文件，就需要好好判断是否具有创新性，并采用进一步的措施予以避免。
(2)委托双方对申请前资料的相互确认：
由于代理人不是发明人，发明人需要仔细确认撰写后的案件，一旦有新的想法或者启示，需要及时提供给代理人，与代理人沟通。在双方资料提供过程中，也存在多次确认和修改问题。
(3)缴费、补正、答复：
专利申请后需要及时缴费，并且在出现初审不合格时候需要及时补正，出现了答复需要及时提交。一般而言，发明专利需要经过初审，形式审查，然后发出初审合格通知书，并在一段时间的公开后，进行实质审查，实质审查大多需要经过多次审查意见答复。

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